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       臺(tái)式X熒光光譜儀同樣能做定量分析檢測(cè)，對(duì)于樣品的選擇需要嚴(yán)格的多，如果要獲取更為準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果，樣品需要做好處理。

       樣品表面暴露在空氣中被氧化，而X熒光光譜儀為表面分析方法，可能會(huì)導(dǎo)致樣品分析結(jié)果隨時(shí)間增長(zhǎng)呈不斷增高的趨勢(shì)。測(cè)量前應(yīng)先將氧化膜磨掉，樣品表面的光澤程度對(duì)分析結(jié)果的影響也較大，樣品表面不光滑，凸凹不平，都會(huì)影響測(cè)量結(jié)果，所以應(yīng)盡量將表面磨平整。

X熒光光譜儀的分析檢測(cè)

       干擾元素的影響，雖然X射線熒光光譜比較簡(jiǎn)單，絕大部分是單獨(dú)的譜線，但在一個(gè)復(fù)雜的樣品中，譜線干擾仍是不可忽視的。有時(shí)甚至?xí)斐蓢?yán)重的干擾。由于干擾元素存在，進(jìn)行分析樣品時(shí)干擾元素的譜線與待測(cè)元素的譜線有重合，造成測(cè)得的強(qiáng)度偏大，給分析結(jié)果帶來(lái)偏差。一般地，看元素譜線的干擾并不是太困難的，一，要了解一些常見(jiàn)的、易干擾元素的譜線位置以及干擾的情況，在對(duì)樣品的測(cè)試圖譜進(jìn)行判斷時(shí)，很關(guān)鍵的一點(diǎn)是，如果有某種元素存在。那么它應(yīng)該有多個(gè)位置的、多條譜線同時(shí)存在。看兩條以上的譜線，例如Pb，需要看PbLa和PbLbl這兩條。如果Pb元素真的含有，則兩條譜線都會(huì)有比較明顯的波峰出現(xiàn)。如果Pb元素真的含有并受到其它元素的干擾而造成了偏大，則兩條譜線都會(huì)出現(xiàn)波峰，但是兩條譜線所測(cè)試出來(lái)的結(jié)果會(huì)相差比較大?？朔姆椒ㄓ校罕苊飧蓴_線，選用無(wú)干擾的譜線作分析線。適當(dāng)?shù)剡x擇儀器測(cè)量條件，提高儀器的分辨本領(lǐng)，降低X光管的管電壓至干擾元素激發(fā)電壓以下，防止產(chǎn)生干擾元素的譜線，進(jìn)行數(shù)學(xué)校正，現(xiàn)代儀器上都有數(shù)學(xué)校正程序。